高分辨透射电子显微镜

透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2 um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。目前这台TEM的分辨力可达0.2 nm。

仪器名称	透射电镜
型号	Tecnai G2 F20
厂家	美国FEI公司
主要规格及技术指标	点分辨率：0.24 nm 扫描透射分辨率：0.2 nm 放大倍数：25X～1,000,000X 放大倍数：25X～1,000,000X
主要功能及应用范围	透射电镜可应用于生命科学、纳米技术、医学、生物学和材料研究，而且应用于工业和教学。透射电镜可提供样品表面特征，形状，大小，结构，元素和复合结构等。
主要功能及应用范围
主要附件	能谱仪、能量损失谱仪
联系人	宋斌
联系电话	65881259
E-mail	bsong@suda.edu.cn

责任编辑：宋斌