光电子能谱仪

发布时间:2016-05-17访问量:34设置

 

生产公司:

岛津/ KRATOS Analytical公司

型号:KRATOS AXIS Ultra DLD

主要特征:

•多功能集成: XPS, Parallel XPS Mapping, UPSFE-AES, Auger Mapping, ISS
•表面灵敏: 信息深度来自试样表面1~5个原子层范围内(检测极限~0.1 atomic %)
•信息量大: 元素成分、价态、分布和深度
剖析的定性/定量分析
•分析元素范围宽: HHe以外的所有元素(典型的是:3Li92U)
•无损检测: X射线几乎对试样没有损伤
•快速成像: 128通道的高效率二维位敏DLD(Delay-Line   Detector)采谱和成像检测器
•专利的磁沉浸透镜和低能电子荷电中和系统
•罗兰圆直径500mm的大束斑Al单色X射线源和内置扫描板的多组元静电透镜
165mm半球型扇形能量分析器(Hemispherical   Sector AnalyzerHSA)和成像同心球面镜分析器(Spherical Mirror AnalyzerSMA)

联系人

 吴海华

联系电话 

  65881259

E-mail

 wuhh@suda.edu.cn



责任编辑:吴海华

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